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2014年第五届中国FIB技术及学术交流研讨会通知

发表日期:2014年10月22日

会议简介:


  聚焦离子束(Focused ion beam-FIB)独特的微纳尺度加工制造能力,已成为纳米科技工作者不可或缺的工具之一。近年来FIB系统在我国的安装数量逐年攀升,从事FIB的科技人员也逐年增加。旨在为促进本领域学者的沟通交流,实现信息共享,提高我国科技人员在该领域的专业技术能力和应用研究水平,全国FIB技术及学术交流研讨会从2010年开始已连续成功举办了四届,分别是2010年由西安交通大学承办、2011年由北京大学和国家纳米科学中心联合承办、2012年由南京大学承办、2013年由天津大学承办,均取得了非常好的交流效果,反响强烈。
  2014年第五届中国FIB技术及学术交流研讨会,受中国电子显微镜学会FIB专业委员会委托,由浙江大学电镜中心和杭州晟享检测技术有限公司联合承办。研讨会将邀请国内本领域学者就FIB基础、技术和应用等最新进展做大会报告,同时也邀请相关设备厂商做FIB设备的最新发展介绍及深度技术交流。
  会议将面向参会人员评出最佳图片奖。
  热忱期待您的参与!


会议日程:


● 报到时间: 2014年11月3日
● 报到地点:杭州圆正启真酒店 (浙江大学紫金港校区内,杭州西湖区余杭塘路866号)
● 注册费:会议费800元;会议费含资料费,住宿统一安排,费用自理,现场交费,限现金。
 会议委托杭州晟享检测技术有限公司开具会议费发票。
● 会议时间: 2014年11月4-5日
● 会议地点:浙江大学紫金港校区国际会议中心


报名方式:

email(
sxtesting@163.com)或传真(0571-57579396)两种报名方式。请将参会回执(附件1)通过email或传真形式递交。


参选图片递交:请有意参加最佳图片评选的老师同学,10月30日前将图片递交到会议邮箱
sxtesting@163.com


组委会联系方式:
郑晓敏:
sxtesting@163.com,15924153536, 0571-57579398
王  亚: 
yawang@zju.edu.cn, 0571-87953722


浙江大学电镜中心
杭州晟享检测技术有限公司
2014年8月29日

附件1:参会人员回执

附件2:会场及交通