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场发射透射电子显微镜(Tecnai G2 F20 S-TWIN, FEI)

发表日期:2014年03月01日

 

仪器名称
透射电子显微镜
型号
FEI Tecnai G2 F20 S-TWIN
最高加速电压
200 kV
点分辨率
0.24 nm
线分辨率
0.102 nm
STEM分辨率
0.19 nm
分析元素范围
B - U
主要功能
TEM、HTEM、HRTEM、EDS、SAED
厂家
美国FEI公司
出厂日期
2011年12月1日
主要服务单位
材料学院、高分子系、光电系、环资学院、化学系、能源系、物理系、生工食品学院、医学院、航空航天等
吉林大学、北京工业大学、北航、复旦大学、温州大学、计量、上海微系统所、纳米院等

 

负责人:曾跃武