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学术活动 |
2014年第五届中国FIB技术及学术交流研讨会通知
发表日期：2014-10-22
会议简介：
聚焦离子束（Focused ion beam-FIB）独特的微纳尺度加工制造能力，已成为纳米科技工作者不可或缺的工具之一。近年来FIB系统在我国的安装数量逐年攀升，从事FIB的科技人员也逐年增加。旨在为促进本领域学者的沟通交流，实现信息共享，提高我国科技人员在该领域的专业技术能力和应用研究水平，全国FIB技术及学术交流研讨会从2010年开始已连续成功举办了四届，分别是2010年由西安交通大学承办、2011年由北京大学和国家纳米科学中心联合承办、2012年由南京大学承办、2013年由天津大学承办，均取得了非常好的交流效果，反响强烈。
2014年第五届中国FIB技术及学术交流研讨会，受中国电子显微镜学会FIB专业委员会委托，由浙江大学电镜中心和杭州晟享检测技术有限公司联合承办。研讨会将邀请国内本领域学者就FIB基础、技术和应用等最新进展做大会报告，同时也邀请相关设备厂商做FIB设备的最新发展介绍及深度技术交流。
会议将面向参会人员评出最佳图片奖。
热忱期待您的参与！
会议日程:
● 报到时间: 2014年11月3日
● 报到地点：杭州圆正启真酒店 (浙江大学紫金港校区内，杭州西湖区余杭塘路866号)
● 注册费：会议费800元；会议费含资料费，住宿统一安排，费用自理，现场交费，限现金。
● 会议委托杭州晟享检测技术有限公司开具会议费发票。
● 会议时间: 2014年11月4-5日
● 会议地点：浙江大学紫金港校区国际会议中心
报名方式：
email（sxtesting@163.com）或传真（0571-57579396）两种报名方式。请将参会回执（附件1）通过email或传真形式递交。
参选图片递交：请有意参加最佳图片评选的老师同学，10月30日前将图片递交到会议邮箱sxtesting@163.com。
组委会联系方式：
郑晓敏：sxtesting@163.com，15924153536， 0571-57579398
王 亚: yawang@zju.edu.cn， 0571-87953722
浙江大学电镜中心
杭州晟享检测技术有限公司
2014年8月29日
