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场发射透射电子显微镜(Tecnai G2 F20 S-TWIN, FEI)
发表日期:2022-03-17
仪器名称 | 透射电子显微镜 |
型号 | FEI Tecnai G2 F20 S-TWIN |
最高加速电压 | 200 kV |
点分辨率 | 0.24 nm |
线分辨率 | 0.102 nm |
STEM分辨率 | 0.19 nm |
分析元素范围 | B - U |
主要功能 | TEM、HTEM、HRTEM、EDS、SAED |
厂家 | 美国FEI公司 |
出厂日期 | 2011年12月1日 |
主要服务单位 | 材料学院、高分子系、光电系、环资学院、化学系、能源系、物理系、生工食品学院、医学院、航空航天等 |
吉林大学、北京工业大学、北航、复旦大学、温州大学、计量、上海微系统所、纳米院等 |
负责人:曾跃武