场发射透射电子电镜（JEM-F200, JEOL）

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发表日期：2025-01-10

仪器名称	场发射透射电子电镜
型号	JEOL JEM-F200
加速电压	200/120/80/60 kV
HRTEM分辨率	0.1 nm
STEM分辨率	0.16 nm
主要功能	•HRTEM、SAED/ CBED 、Super EDS-Mapping、 STEM-HAADF/ABF/BEI/SEI（背散射/二次电子成像） •120/80/60 kV 多种低压模式实现电子束敏感材料高分辨无损显微结构与成分分析